陜西開(kāi)爾文測(cè)控技術(shù)有限公司
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認(rèn)證資料 Certification Data
陜西開(kāi)爾文測(cè)控技術(shù)有限公司
- 聯(lián)系人：杜浩晨
- 官網(wǎng)地址：www.kewtest.cn
- 經(jīng)營(yíng)模式：制造商
- 主營(yíng)產(chǎn)品：IGBT測(cè)試儀,IGBT測(cè)試系統(tǒng),半導(dǎo)體器件測(cè)試儀,軌道交通IGBT測(cè)試儀
- 所在地：陜西省#陜西省陜西省西安市高新區(qū)工業(yè)園發(fā)展大道26號(hào)
- 供應(yīng)產(chǎn)品：55
產(chǎn)品詳情
Product details陜西少子壽命價(jià)格<p>此設(shè)備采用開(kāi)路電壓衰減法設(shè)計(jì)，開(kāi)路電壓衰減法是測(cè)試少子壽命的一種方法。適合于測(cè)量PN結(jié)參雜區(qū)的少子壽命。被測(cè)的PN結(jié)P側(cè)和N側(cè)要分別形成歐姆接觸。（測(cè)試的前題是必須形成PN結(jié)和歐姆接觸）。測(cè)試PN結(jié)兩端的電壓波形，即可反映少子壽命的變化情況。<br/>少子壽命測(cè)試范圍：100nS—1mS；<br/>測(cè)試樣品規(guī)格：Φ6—Φ75；<br/>少子壽命測(cè)試重復(fù)性：≤2%；<br/>測(cè)試形式：自動(dòng)測(cè)試；<br/>測(cè)試方法：開(kāi)路電壓衰減法；</p><p>少子壽命測(cè)試是長(zhǎng)基區(qū)少子壽命對(duì)器件的特性有一定的影響。通過(guò)監(jiān)測(cè)少子壽命分析器件內(nèi)部問(wèn)題，對(duì)改善器件設(shè)計(jì)和工藝有一定的參考價(jià)值。</p>陜西少子壽命價(jià)格
聯(lián)系方式
Contact Us- 聯(lián)系人姓名：杜浩晨
- 聯(lián)系人職位：經(jīng)理
- 聯(lián)系人手機(jī)：13572125545
- 企業(yè)電話：86-029-89188495
- 詳細(xì)地址：陜西省#陜西省陜西省西安市高新區(qū)工業(yè)園發(fā)展大道26號(hào)