陜西開爾文測控技術(shù)有限公司
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認證資料 Certification Data
陜西開爾文測控技術(shù)有限公司
- 聯(lián)系人：杜浩晨
- 官網(wǎng)地址：www.kewtest.cn
- 經(jīng)營模式：制造商
- 主營產(chǎn)品：IGBT測試儀,IGBT測試系統(tǒng),半導體器件測試儀,軌道交通IGBT測試儀
- 所在地：陜西省#陜西省陜西省西安市高新區(qū)工業(yè)園發(fā)展大道26號
- 供應(yīng)產(chǎn)品：55
產(chǎn)品詳情
Product details此設(shè)備采用開路電壓衰減法設(shè)計，開路電壓衰減法是測試少子壽命的一種方法。適合于測量PN結(jié)參雜區(qū)的少子壽命。被測的PN結(jié)P側(cè)和N側(cè)要分別形成歐姆接觸。（測試的前題是必須形成PN結(jié)和歐姆接觸）。測試PN結(jié)兩端的電壓波形，即可反映少子壽命的變化情況。
少子壽命測試范圍：100nS—1mS；
測試樣品規(guī)格：Φ6—Φ75；
少子壽命測試重復性：≤2%；
測試形式：自動測試；
測試方法：開路電壓衰減法；
少子壽命測試是長基區(qū)少子壽命對器件的特性有一定的影響。通過監(jiān)測少子壽命分析器件內(nèi)部問題，對改善器件設(shè)計和工藝有一定的參考價值。
聯(lián)系方式
Contact Us- 聯(lián)系人姓名：杜浩晨
- 聯(lián)系人職位：經(jīng)理
- 聯(lián)系人手機：13572125545
- 企業(yè)電話：86-029-89188495
- 詳細地址：陜西省#陜西省陜西省西安市高新區(qū)工業(yè)園發(fā)展大道26號